Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung
Spektroskopiekurs kompakt
| Autor | Thomas Oeser |
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| Verlag | Springer Spektrum |
| Erscheinungsjahr | 2019 |
| Seitenanzahl | 77 Seiten |
| ISBN | 9783658254391 |
| Format | |
| Kopierschutz | Wasserzeichen |
| Geräte | PC/MAC/eReader/Tablet |
| Preis | 4,99 EUR |
Thomas Oeser bietet in diesem essential eine leicht verständliche Einführung in die Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung. Kurz und präzise, strukturiert und gut zu lesen vermittelt er die Grundlagen dieses Analyseverfahrens. Von den Methoden der Röntgenanalytik und den typischen Anwendungsbeispielen der Kristallstrukturanalyse führt der Autor zu einem detaillierten Verständnis der Einkristall-Röntgenstrukturanalyse. Er gibt dafür einen Überblick über Grundlagen zur charakteristischen Röntgenstrahlung, Netzebenen sowie dem reziproken Gitter und erläutert damit Strukturlösung und -verfeinerung. Ein Kapitel zu den Symmetrieeigenschaften und der Nomenklatur von Kristallsystemen sowie weiterführende Literatur runden das Buch ab.
Dr. Thomas Oeser ist wissenschaftlicher Mitarbeiter am Organisch-Chemischen Institut der Universität Heidelberg.
