Vergleich unterschiedlicher heuristischer Verfahren für das 'Vehicle routing problem with time windows'
| Autor | Stephan Pachnicke |
|---|---|
| Verlag | GRIN Verlag |
| Erscheinungsjahr | 2006 |
| Seitenanzahl | 52 Seiten |
| ISBN | 9783638471756 |
| Format | |
| Kopierschutz | kein Kopierschutz/DRM |
| Geräte | PC/MAC/eReader/Tablet |
| Preis | 9,99 EUR |
Stephan Pachnicke wurde 1977 in Dortmund geboren. Von 2000-2001 absolvierte er ein Masterstudium in 'Information Engineering' an der City University, London, Großbritannien. Sein Studium der Elektrotechnik an der TU Dortmund schloss er 2002 mit dem Grad Dipl.-Ing. ab. 2005 wurde er zum Dr.-Ing. der Elektrotechnik promoviert - ebenfalls an der TU Dortmund. Im Jahr 2005 beendete er außerdem ein Dipl.-Wirt.-Ing. Studium an der FernUniversität, Hagen. Seine Habilitation wurde ihm im Januar 2012 verliehen für Forschungsarbeiten über 'Optische Übertragungsnetze'. Gleichzeitig wurde er zum 'Privatdozent' der TU Dortmund ernannt. Von 2007 bis 2011 arbeitete er als Oberingenieur am Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik, TU Dortmund. Anschließend war er bei der Firma ADVA Optical Networking SE in der Abteilung 'Advanced Technology' (CTO Office) beschäftigt und leitete u.a. EU-finanzierte Forschungsprojekte zu optischen Zugangsnetzten der nächsten Generation. Außerdem erforschte er Konzepte für die Konvergenz von Fest- und Mobilfunknetzen sowie Datenzentren der nächsten Generation. Seit 2016 ist er Professor an der Christian-Albrechts-Universität zu Kiel und leitet den Lehrstuhl für Nachrichtenübertragungstechnik. Gleichzeitig ist er Direktor des Instituts für Elektrotechnik und Informationstechnik. Er ist Autor bzw. Ko-Autor von mehr als 100 wissenschaftlichen Veröffentlichungen, darunter 5 Bücher und 19 Zeitschriftenbeiträge. Stephan Pachnicke erhielt verschiedene Auszeichnungen für seine wissenschaftliche Arbeit darunter den ITG-Preis 2012 des VDE, den Dissertationspreis 2006 der TU Dortmund sowie den VDE Preis Rhein/Ruhr 2002. Er ist Mitglied des VDE/ITG und Senior Member des IEEE.
